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  • A3-SR反射式膜厚測(cè)量?jī)x
    A3-SR反射式膜厚測(cè)量?jī)x

    A3-SR-100S系列反射式膜厚儀可用于測(cè)量半導(dǎo)體鍍膜,手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度,PET柔性涂布的膠厚等厚度,LED鍍膜厚度,建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合。配手持式探頭,A3-SR-100S可以用來一鍵式測(cè)量車燈罩表面硬化膜(包括過渡層)和背面的防霧層,精度達(dá)到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測(cè)量?jī)?nèi)飾件,外飾件的鋁陽極氧化層和漆層的厚度,精度達(dá)到0.02um

    時(shí)間:2024-08-16型號(hào):A3-SR瀏覽量:10338
  • AvaSun-XL日曬校準(zhǔn)儀
    AvaSun-XL日曬校準(zhǔn)儀

    AvaSun-XL日曬校準(zhǔn)儀主要是對(duì)日曬氣候色牢度試驗(yàn)儀輻射強(qiáng)度進(jìn)行校準(zhǔn)測(cè)量,由于各日曬儀廠家內(nèi)部氙燈輻照度能量相比匹配太陽的能量差異各不相同,對(duì)織物或染料耐光(耐氣候)色牢度評(píng)級(jí)帶來較大影響,因此對(duì)日曬儀內(nèi)部氙燈輻照度強(qiáng)度校準(zhǔn)測(cè)量變得非常有必要。

    時(shí)間:2024-08-16型號(hào):AvaSun-XL瀏覽量:7827
  • VMS-8S透過率測(cè)試儀(分光光度儀)
    VMS-8S透過率測(cè)試儀(分光光度儀)

    VMS-8S型透過率測(cè)試儀(分光光度儀)-1.0mm或0.5mm 專業(yè)測(cè)試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過率,PDA檢測(cè)器測(cè)速快(1s)、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。現(xiàn)貨供應(yīng)。

    時(shí)間:2024-08-29型號(hào):VMS-8S瀏覽量:4229
  • LVmicroZ顯微分光系統(tǒng)
    LVmicroZ顯微分光系統(tǒng)

    LVmicroZ是顯微分光系統(tǒng),使用Lambda Vision制造分光專用顯微鏡,采用小孔直良手法測(cè)量彩色濾光片的微小面積的穿透率、反射率、辨色。分光器內(nèi)建光源,可以直接觀察量測(cè)點(diǎn)位置,也可以做反射光下的NIR顏料膜厚測(cè)量。

    時(shí)間:2024-08-16型號(hào):LVmicroZ瀏覽量:3466
  • VMS-10S透過率測(cè)試儀(分光光度儀)
    VMS-10S透過率測(cè)試儀(分光光度儀)

    VMS-10S型透過率測(cè)試儀(分光光度儀)-0.3mm 2.5D玻璃面板透過率測(cè)試儀,專業(yè)測(cè)試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過率,PDA檢測(cè)器測(cè)速快(1s)、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。

    時(shí)間:2024-08-16型號(hào):VMS-10S瀏覽量:3729
  • VMS-1SIR小孔透過率測(cè)試儀(分光光度儀)
    VMS-1SIR小孔透過率測(cè)試儀(分光光度儀)

    VMS-1S型透過率測(cè)試儀(分光光度儀)-1.0mm 2.5D玻璃面板透過率測(cè)試儀,專業(yè)測(cè)試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過率,PDA檢測(cè)器測(cè)速快(1s)、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。目前該型號(hào)停產(chǎn),替代型號(hào)VMS-8S型。

    時(shí)間:2024-08-16型號(hào):VMS-1S瀏覽量:4048
  • AvaSun-XL WiFi無線日曬光譜輻射儀
    AvaSun-XL WiFi無線日曬光譜輻射儀

    AvaSun-XL wifi 無線日曬校準(zhǔn)光譜儀是荷蘭Avantes公司專門針對(duì)日曬儀內(nèi)部的連續(xù)型或脈沖型氙燈進(jìn)行輻射校準(zhǔn)測(cè)量,測(cè)量方式按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)JJF(紡) 051-2012執(zhí)行,同時(shí)可以選擇多個(gè)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行輻射校準(zhǔn)測(cè)量,可以實(shí)現(xiàn)高精度、高穩(wěn)定性輻射光譜強(qiáng)度測(cè)量,采用了 非線性校準(zhǔn)技術(shù),保證響應(yīng)一致性接近100%.

    時(shí)間:2024-08-16型號(hào):AvaSun-XL WiFi瀏覽量:4490
  • E3000閃點(diǎn)測(cè)試儀
    E3000閃點(diǎn)測(cè)試儀

    本閃點(diǎn)測(cè)試儀主要包括:圖像采集模塊 、自動(dòng)對(duì)焦模塊顯示照明模塊及軟件分析模塊, 可對(duì)屏幕或者光學(xué)膜的閃點(diǎn)性能進(jìn)行測(cè)量。設(shè)備采用傅里葉變換對(duì)圖像進(jìn)行頻率域內(nèi)濾波處理,并通過逆傅里葉變換分離出閃點(diǎn)信息。 應(yīng)用范圍: 掩模版:采用背光和掩模版測(cè)量; 顯示屏:采用顯示屏直接測(cè)量,應(yīng)用于防眩光膜、玻璃或者屏幕的閃點(diǎn)性能評(píng)估測(cè)試

    時(shí)間:2024-08-16型號(hào):E3000瀏覽量:5172
  • Velox 1100PDA紫外 - 可見分光光度計(jì)
    Velox 1100PDA紫外 - 可見分光光度計(jì)

    專為玻璃行業(yè)推出透過率測(cè)試附件,水平或者垂直載物臺(tái)方便用戶操作測(cè)試,數(shù)秒即出全光譜數(shù)據(jù),廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品全檢。提供快速、可靠和緊湊的性能,3秒鐘即出全光譜數(shù)據(jù),使其成為在最小空間內(nèi)進(jìn)行質(zhì)量控制和保證測(cè)量的理想選擇。 光電二極管整列(pda)檢測(cè)器技術(shù)允許幾乎同時(shí)快速獲取全波長(zhǎng)范 圍(從190 nm到110 nm)的光譜數(shù)據(jù)。

    時(shí)間:2024-09-27型號(hào):Velox 1100瀏覽量:590
  • T5 plus便攜式薄膜黑白透射密度計(jì)
    T5 plus便攜式薄膜黑白透射密度計(jì)

    便攜,自帶電池可隨時(shí)隨地檢測(cè);操做簡(jiǎn)便,按下測(cè)量鍵即可讀數(shù);有三種測(cè)量孔徑可切換;無需熱機(jī);配有調(diào)整功能,可與其他廠家的密度計(jì)進(jìn)行對(duì)比使用;人性化設(shè)計(jì),小巧緊湊,按任意鍵開機(jī),自動(dòng)關(guān)機(jī)。

    時(shí)間:2024-08-16型號(hào):T5 plus瀏覽量:4503
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